Исследованы топологические дескрипторы для текстурного анализа изображений высокого разрешения. Их преимущество в том, что паттерны распознаются непосредственно по данным без использования каких-либо моделей. В основе лежит топологическая фильтрация отсчетов по уровням. Проведено тестирование представления диаграмм как персистентых ландшафтов и персистентных изображений. Первые показали посредственные результаты. Классификатор, построенный на персистентных изображениях, привел к хорошему распознаванию. Начато тестирование представления диаграммы в виде плотности распределения вероятности.