Исследование и прогнозирование надежности запоминающих устройств (ЗУ) в условиях комплексного воздействия ионизирующего излучения и факторов космического пространства. Регистрация сбоев и отказов ЗУ в условиях космического полета
Full Name of the work head: Грищенко В.Ф.
Исполнители проекта: А.С.Инчин
: Ин-т косм. исслед.
Inventory number: 0299РК00208
Registration number: 0198РК00361
Keywords: запоминающие, устройства, сбои, отказы, исследования,
Выполнены регистрация сбоев ЗУ на орбитальном комплексе "Мир", привязка сбоев к бортовому времени и географическим координатам. Показано, что вклад радиационной компоненты космического пространства в интенсивность сбоев ЗУ составляет около 10 %. Установлены следующие факторы, влияющие на интенсивность сбоев: солнечная и антисолнечная ориентация станции; радиационная обстановка вне и внутри отсеков; динамические операции станции (стыковка, расстыковка) и нештатные ситуации. Оценены зарядовый состав и энергетический спектр космических лучей, вызывающих сбои ЗУ.
